DPT测试平台
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GaN Double-Pulse Tester

DPT（Double Pulse Test）双脉冲测试是评估功率半导体器件动态开关特性的重要方法，主要用于精确测量出功率器件在实际应用中最关键的动态参数
和开关损耗
DPT测试平台可精准测量功率器件实际工作中的开关瞬态，规避静态测试无法捕捉的动态风险

DPT测试平台
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Main features

· 支持GaN封装级产品的双脉冲动态测试

· 支持导通过程Rds(on)、td(on)、tr、ton、Eon、DVDTon等参数的测试
· 支持关断过程Vdmax、td(off)、tf、toff、Eoff、DVDToff等参数的测试0-1500v高压
· 电源可调，覆盖主流GaN应用电压
· 栅极Ron&Roff电阻可调，栅极驱动电压(±10v)可调
· 支持TO封装、DFN封装、TOLL封装等等(可定制)支持封装器件单独控温加热(室温~125°C)
· 温度准确性<±3℃℃，分辨率 0.1℃
· 高带宽同轴分流器(RS)可调
· 可调负载空芯电感20/50/100/200/600uH(可定制)

主要参数
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Main Parameter


类别

类型

指标

规格

电气

一般特性


采样率

10 Gsa/s


采样精度

12ppb+75ppb/年

偏移校准精度

500ps

漏极

电压范围（高压板子)

10~1000V

电压范围（低压板）

0~150V

电流范围（高压板）

0~100A，@500V，100uH，2%电压跌落

电流范围（低压板）

0~200A，@100V，20uH，2%电压跌落

电压精度

量程的2%（typ）

电流精度

量程的4%（typ）

电压探头带宽

500MHz

分流器带宽

1GHz

栅极

高电平电压范围

0~20V

低电平电压范围

-5~0V

电压分辨率

0.1V

最大电流

5A（peak）

电压测量精度

量程的2%（typ）

第一脉宽范围

1~50uS

关断时间范围

0.5~20uS

第二脉宽范围

0.5~10uS

电压探头带宽

1GHz

配套元件

负载电感

可调空芯电感20/50/100/200/600uH

（可定制）

温度控制

加热器（选件）

环温至175℃

适配封装

封装类型

DFN56、DFN88、TOLL、TO252

（其他封装可定制）

DHTOL测试平台
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Main features

DHTOL(Dynamic High Temperature Operating Life）动态高温工作寿命测试，主要通过模拟高频开关等实际应用条件来评估GaN功率器件在接近实际长期应用条件下的可靠性。
DHTOL测试平台可模拟器件长期工作中的“高温 + 动态开关”双重压力，提前暴露潜在缺陷，提供可信的器件寿命与可靠性数据。

DPT测试平台
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Main features

· 支持GaN封装级产品的动态老化测试

· 实时捕捉器件性能退化，支持Rds(on)、Vgs、Vds(Vm)、Ids关键参数在线监控

· 高频开关加速老化进程，DUT开关频率1kHz~200kHz可调，占空比可调

· 0-1500v高压电源可调，覆盖主流GaN应用电压

· 栅极驱动电压Vgs(0~12v)可调

· 支持TO封装、DFN封装、TOLL封装等(可定制)

· 可使用红外测温仪对GaN器件进行结温检测

· 过压保护电路，过流保护电路，钳位Vds采样电路等

· 高带宽同轴分流器(Rs)可调