Newwave 1000
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高功耗(600W)逻辑类动态老化机台
NewWave 1000 超高功耗（600W~2000W）逻辑类动态老化机台，针对AI/XPU/HPC等超高功耗的集成电路的可靠性需求设计，采用独立的By Board Timing Generator设计，每个slot包含一套主控板、电源板、独立温控板，每个slot是一个独立的系统，满足客户多项目并行试验的需求。
产品参数
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Product Parameter
产品名称 | Newwave 1000 |
温区 Temperature zone | 4 |
插槽 Slots | 8 |
插槽间距Slots Pitch | 200mm |
DUT温柔范围DUT temperature range | 室温~150℃ |
向量时间组Timing Set | 0~5.5V/100mA |
向量深度Vector memory depth | 128M |
信号周期 Driver signal period每个Slot 供电Slot Power Supply | 50ns(20M)~65.53us,5ns分辨率 |
每个Slot 供电Slot Power Supply | 12V 3000W 0.3V ~ 5V/30A 100W* 5路 0.3V ~ 3.3V/175A 250W* 8路 max 7000W |
错误日志存储Error Log | 2k字 |
老化板尺寸 Burn-In board size | 609mm*570mm |
设备外尺寸 Main size | 3000mm(W)*2000(D) *2400mm(H) |
主要特点
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Main features
· 能驱动最高2000W的被测样品，具有超温保护功能、能够对设备温度、被测样品壳温或者结温进行精确测量； · 每个slot最大可提供超过7000W带载能力； · 测试区和控制区采用单独风道，测试区采用冷板式液冷结合热补偿独立温控系统，维持芯片温度的稳定度；· · 允许低压大电流在BIB实现，腔体系统简单，稳定性高； · 支持单site上下电控制和实时监控功能； · 支持量产burn-in的工单导入、数据库存储数据、MES系统配置等功能； · 有专门的BIB管理软件，可定义、识别BIB ID、状态； · 支持数据分析功能，可根据客户的pass/fail rule进行分BIN操作和坏片识别；
