Indie 1000
——
中高功耗 (50W)便携式逻辑类动态老化机台
Indie 1000是一款带有独立温控功能的便携式动态老化测试设备，专为芯片设计公司的小批量实验室需求而设计。该设备的主要目标是解决传统量产老化测试设备体积过大、对环境要求过高（如层高、承重、供电等），无法适用于小规模研发实验室的问题。
适用于50W以下的ASIC、SOC、逻辑、数模混合、射频等IC 可靠性需求。
产品参数
——
Product Parameter
产品名称 | Indie 1000 |
插槽 Slots | 4 |
向量时间组Timing Set | 8 |
向量深度Vector memory depth | 32M |
通道数I/O Channels | 256 |
独立温控通道数 | max48 |
通道驱动能力I/O driver | 0~5.5V/100mA |
信号周期 Driver signal period | 50ns(20M)~65.53us,5ns分辨率 |
每个Slot 供电Slot Power Supply | 0.3V ~ 10V/60A 300W* 8路 0.3V ~ 5V/20A 100W* 2路 max 2200W |
错误日志存储Error Log | 2k字 |
老化板尺寸 Burn-In board size | 570mm*609mm |
主要特点
——
Main features
· 便携设计：体积紧凑、灵活设计，占用实验室空间小，比常规量产设备以及带温箱的设备更加轻便，尤其适合芯片设计公司的小批量实验需求； · 独立温控：无需额外配置温箱，每颗芯片通过Socket进行独立控温，规避了腔内温度不均匀性带来的样品间温差，温度控制更精准； · 成本优势：除PC、电源外，无其他外部设备要求，成本优势显著； · 更多激励信号可选：客制化激励信号模块，可选功能包括不同频率、占空比的方波、正弦波、三角波等；· 主要规格可根据需求进行客制化； · 可兼容友商BIB； · 支持DFT功能，双向I/O，支持向量自动比对； · 提供实时监控实验过程参数功能，数据详尽，结合可视化数据展示，一目了然； · 提供设备自检与校准功能；
