Alternative 1000
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高功耗(600W)逻辑类动态老化机台
Alternative 1000 高功耗(600W)逻辑类动态老化机台，针对5G、人工智能(AI)、元宇宙、边缘计算、主动辅助车用、自动驾驶等领域的高功耗逻辑芯片、模组的电性能可靠性测试(HTOL/LTOL/Burn-in)设计，采用独立的By Board Timing Generator设计, 每个slot是一个独立的系统，包含一套主控板、电源板、独立温控板，满足客户多项目并行试验的需求。
产品参数
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Product Parameter
产品名称 | Alternative1000 |
温区 Temperature zone | 1 |
插槽 Slots | 12 |
插槽间距Slots Pitch | 102mm |
温箱工作范围Oven Temperature | 室温+10℃~150℃ |
向量时间组Timing Set | 8 |
向量深度Vector memory depth | 64M |
通道数I/O Channels | 256 |
信号周期 Driver signal period | 50ns(20M)~65.53us,5ns分辨率 |
每个Slot 供电Slot Power Supply | 48V 3200W 0.3V ~ 10V/20A 120W*10路 max 4400W |
错误日志存储Error Log | 2k字 |
老化板尺寸 Burn-In board size | 570mm*609mm |
设备外尺寸 Main size | 2300mm(W)*1500(D) *2265mm(H) |
主要特点
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Main features
· 每个slot最大可提供超过2000A电流； · 测试区和控制区采用单独风道，测试区采用腔体风冷结合独立温控系统控温，维持芯片温度的稳定度； · 低压大电流在BIB实现，腔体系统简单，稳定性高，ms级OCP保护功能，保障样品安全； · 支持OS功能测试，识别短路风险，保障样品安全； · 支持单site上下电控制和实时监控功能； · 支持量产burn-in的工单导入、数据库存储数据、MES系统配置等功能； · 有专门的BIB管理软件，可定义、识别BIB ID、状态； · 支持数据分析功能，可根据客户的pass/fail rule进行分BIN操作和坏片识别；
